لطفا قبل از ايجاد تاپيک در انجمن ، با استفاده از کادر رو به رو جست و جو نماييد
تامین روغن های سیلیکونی تامین روغن های سیلیکونی
بستن کاربر برتر اين ماه
شما هم ميتوانيد با فعاليت مستمر و مفيد کاربر برتر شويد
ـــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــــ آواتار کاربر برتر اين ماه
نمایش نتایج: از 1 به 1 از 1

موضوع: آشنائی با دستگاه بازتاب سنج پرتو ایکس

  1. Top | #1
    مرجع تخصصی و رایگان ویبولتین در ایران | ویکی وی بی
    Masoumeh Taheri آنلاین نیست.
    ورود به پروفایل ایشان

    عنوان کاربر
    مدیر ارشد
    تاریخ عضویت
    03.08.2017
    شماره عضویت
    3990
    نوشته ها
    227
    میانگین پست در روز
    0.33
    تشکر
    0
    تشکر شده : 11 بار در 11 پست
    مرجع تخصصی و رایگان ویبولتین در ایران | ویکی وی بی

    موضوع آشنائی با دستگاه بازتاب سنج پرتو ایکس

    مقدمه


    ● با پیشرفت روش هایی در جهت ساخت لایه های نازک و ساختارهای چندلایه ای، چنین ساختارهایی کاربردهای گسترده ای پیدا کرده اند. بنابراین کنترل دقیق لایه های نازک به منظور ساخت ادوات کارآمد و تکرارپذیر ضروری است.


    ● بازتاب پرتو ایکس یا بازتاب سنج پرتوایکس در مطالعه علم سطح بسیار مورد توجه است، زیرا این تکنیک برای تعیین مشخصه های سطح ازجمله ضخامت، چگالی و زبری لایه های نازک و ساختارهای چندلایه ای به کار گرفته می شود. این تکنیک براین اساس است که پرتویی از پرتوها یا یکساز سطح صاف و همواری بازتاب می شود و سپس شدت پرتوهای بازتاب شده اندازه گیری می شود.


    نحوه عملکرد


    ● در تکنیک xrr،پرتوتکفام و موازی شده ایکس با طول موج λ و بازاویه خراشان (θ) بر سطح نمونه فرود می آید وسپس شدت پرتوهای بازتابیده از سطح نمونه درجهت آینه ای که زاویه تابش برابر با زاویه بازتابش است، اندازه گیری می شود.


    اجزای تشکیل دهنده بازتاب سنج پرتو ایکس


    ● قسمت های مختلف دستگاه بازتاب سنج پرتو ایکس شامل منبع تولید پرتو ایکس،بخش های نوری و مکانیکی، و آشکارساز است


    آماده سازی نمونه


    ● نمونه هایی که با استفاده از روش بازتاب پرتوایکس مطالعه می شوند، به صورت لایه ی نازک یا ساختارهای چندلایه ای ساخته می شوند که برای ساخت آن ها روش هایی مانند رسوب فیزیک بخار، کندوپاش و رسوب لایه اتمی به کار گرفته می شود. بازتاب سنجی پرتو ایکس به چگالی الکترونی و مقدار جذب ماده بستگی دارد و مستقل از ساختار بلوری مواد است.


    نتیجه گیری


    ● آنالیز xrr نوعی آنالیز غیرمخرب است که با توجه به اهمیت لایه های نازک در ادوات گوناگون؛ با استفاده از آن می توان اطلاعاتی در مورد چگالی، ضخامت و زبری سطح و فصل مشترک لایه ها به دست آورد. در این آنالیز؛ پرتو ایکس با زاویه خراشان بر سطح نمونه فرود می آید و بازتاب کلی رخ می دهد که با ظاهر شدنِ فریزهایی در طیف بازتاب پرتو ایکس همراه است. فاصله میان دو بیشینه در نوسان هایی که در طیف مشاهده می شود به ضخامت لایه بستگی دارد و زاویه بحرانی به چگالی لایه وابسته است. زبری سطح لایه و یا زبری فصل مشترک لایه ها نیز با استفاده از سیگنال پس زمینه تعیین می شود.
    ویرایش توسط Masoumeh Taheri : 18.04.2018 در ساعت 22:48

کلمات کلیدی این موضوع

مرجع تخصصی و رایگان ویبولتین در ایران | ویکی وی بی مجوز های ارسال و ویرایش

  • شما نمیتوانید موضوع جدیدی ارسال کنید
  • شما امکان ارسال پاسخ را ندارید
  • شما نمیتوانید فایل پیوست کنید.
  • شما نمیتوانید پست های خود را ویرایش کنید
  •  
تبلیغات متنی جهت کسب اطلاعات بیشتر و مشاهده تعرفه ها کلیک کنید
تبلیغات متنی جهت کسب اطلاعات بیشتر و مشاهده تعرفه ها کلیک کنید
تبلیغات متنی جهت کسب اطلاعات بیشتر و مشاهده تعرفه ها کلیک کنید
تبلیغات متنی جهت کسب اطلاعات بیشتر و مشاهده تعرفه ها کلیک کنید
تبلیغات متنی جهت کسب اطلاعات بیشتر و مشاهده تعرفه ها کلیک کنید
تبلیغات شما در اینجا تبلیغات شما در اینجا
مرجع تخصصی و رایگان ویبولتین در ایران | ویکی وی بی
مختصری از ما .انجمن مهندسان شیمی ایران در آذر ماه 1394 با هدف همکاری و رشد و پیشرفت هرچه بیشتر دانشجویان این رشته در ایران، افتتاح گردیده است. به زودی بخش ها و امکانات وسیعی به انجمن اضافه خواهد شد و امید است تا کاربران عزیز با همکاری هر چه بیشتر و فعالیت های پرثمر خود ، در پیشبرد سایت پیشتاز باشند ، تا انجمنی قدرتمند در زمینه مهندسی شیمی داشته باشیم.
آشنایان ما



همکاران ما